- 非破壊検査・印字マーキング
磁粉探傷試験の試験片
非破壊検査では各種点検や性能比較などを目的として、さまざまな試験片が販売されております。
磁粉探傷試験片では、以下のような品目を取り扱っております。
A型標準試験片
A型標準試験片は、以下のような目的で使用されます。
- 試験面に与えられた磁界の強さと方向確認
- 装置、磁粉および検査液の性能点検
- 探傷有効範囲の設定
- 試験操作および条件の確認
なお、試験片の型番は、以下の意味を示しています。
［人工きずの深さ］／ ［板の厚さ］（人工きずの形状） ※ 単位：µm
例： A1-30/50（円形）という試験片の場合、以下の仕様である事を意味しています。（※メモここに図が入る）
- 板の厚さ ：50µm
- 人工きずの深さ ：30µm
- 人工きずの形状 ：円形
A型標準試験片の使用方法
試験片は、人工きずのある面が試験面に密着させた上で、粘着テープで貼り付けます。
- 粘着性テープが標準試験片の人工きずの部分を覆ってはならない
- A型標準試験片への磁粉の適用は、連続法で行う。
- A型標準試験片は、初期の形状・寸法・磁気特性に変化を生じた場合は、使用してはならない。
C型標準試験片
スペースがなくにA型標準試験片の適用が困難な場合に使用されます
対比試験片タイプ1/2
磁粉液チェックと装置性能の評価を行うための試験片です。
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