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・大量の部品などを検査する場合、少人数でも効率よく検査可能。・検査対象部品の大きさに合わせて、3種類の標準装置から選択可能。(Ⅰ,Ⅱ,Ⅲ型)・お客様の用途等に合わせ、特別仕様の装置を設計製作可能。・方法A、B、D、無現像に対応可能。
・排水処理設備が不要。 洗浄には本装置専用溶剤を冷却回収し、再使用します。・速乾性の専用溶剤の使用により、乾燥装置は不要。・探傷処理能力の向上。・無現像方式のため、探傷後処理が不要。・消防法の適用を受けません。
・画像処理装置とマーキング装置が組み込まれた全自動磁粉探傷装置です。・長手方向(L)、周方向(T)のきずを同時に検出し、検査の効率化を実現。・きずマップデーターはビレットを長手方向(L)100mm、周方向(T)20mm単位で分割して出力します。・探傷速度は、標準40m/min(最大60m/min)まで可能です。
・新開発の磁粉液評価装置の採用により、磁粉液の管理が一定となるため、検査条件が一定になります。・画像処理の採用により、合否判定が一定となるため、ヒューマンエラーを防止することが可能です。・三極コイルの採用により、走間・非接触の検査が可能となるため、検査工数を低減可能です。
汎用の定置型磁粉探傷装置で、JIS・ISO等の規格に適合した装置設計・製作が可能です。
・三極コイルにより回転磁界を発生させ、一度に長手方向(L)と周方向(T)のきずを探傷できます。・非接触で探傷を行うため、検査ワークをきずつけるスパークは発生しません。・走間式の磁化方法であるため、サイクルタイムの大幅な短縮が可能です。・各検査部品に合せた探傷システムの設計製作が可能です。
・非接触なため、プローブは消耗しません。・全方向のきずを1つのプローブで検査する事が可能です。・不良製品にペイントによる識別マーキングを行います。(オプション)・お客様の生産ラインに合わせた自動探傷システムの設計製作が可能です。
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