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・画像処理装置とマーキング装置が組み込まれた全自動磁粉探傷装置です。・長手方向(L)、周方向(T)のきずを同時に検出し、検査の効率化を実現。・きずマップデーターはビレットを長手方向(L)100mm、周方向(T)20mm単位で分割して出力します。・探傷速度は、標準40m/min(最大60m/min)まで可能です。
・新開発の磁粉液評価装置の採用により、磁粉液の管理が一定となるため、検査条件が一定になります。・画像処理の採用により、合否判定が一定となるため、ヒューマンエラーを防止することが可能です。・三極コイルの採用により、走間・非接触の検査が可能となるため、検査工数を低減可能です。
・渦電流を用いた自動探傷装置であるため、表面欠陥を高速で探傷できます。・対象材に管理ナンバーまたはNGのマーキングを行います。(オプション)・お客様の生産ラインに合わせた自動探傷システムの設計製作が可能です。
・非接触なため、プローブは消耗しません。・全方向のきずを1つのプローブで検査する事が可能です。・不良製品にペイントによる識別マーキングを行います。(オプション)・お客様の生産ラインに合わせた自動探傷システムの設計製作が可能です。
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